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常州宇清電氣科技有限公司

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[新品] 光伏組件PID測(cè)試系統(tǒng)(YQ-GF-PID)

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YQ-GF-PID光伏組件PID測(cè)試系統(tǒng) 一、概述: YQ-GF-PID型光伏組件PID測(cè)試系統(tǒng)/電勢(shì)誘導(dǎo)衰減測(cè)試系統(tǒng)是常州宇清電氣科技有限公司自主研發(fā)的,測(cè)試目的:1.評(píng)估光伏組件承受系統(tǒng)偏壓的能力;2.測(cè)試光伏組件承受系統(tǒng)電壓、溫度、濕度等各種應(yīng)力的能力;3.減少和預(yù)防PID現(xiàn)象。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804 (Draft)。光伏應(yīng)用越來越多,電站規(guī)模越來越大,組件串聯(lián)的數(shù)目不斷增大。這樣,太陽能組件承受高對(duì)地勢(shì)能的幾率越來越大。當(dāng)系統(tǒng)的一端接地時(shí),距離接地端***遠(yuǎn)的組件對(duì)地將產(chǎn)生較高的電勢(shì),美洲接近600V,歐洲接近1000V。一般來說,泄漏電流是經(jīng)過封裝材料、鋁邊框或安裝支架流入大地的。泄漏電的大小與電池片材料及工藝、組件材料及工藝、系統(tǒng)安裝方法、環(huán)境溫度、環(huán)境濕度等因素有關(guān)。長(zhǎng)期泄漏電將使電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學(xué)腐蝕,從而導(dǎo)致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長(zhǎng)期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。對(duì)組件來說,泄漏電途徑如下圖所示。Lorem ipsum dolor sit amet, co<i></i>nsectetuer adipiscing elit. Maecenas feugiat co<i></i>nsequat diam. Maecenas metus. Vivamus diam purus, cursus a, commodo non, facilisis vitae, nulla. Aenean dictum lacinia tortor. Nunc iaculis, nibh non iaculis aliquam, orci felis euismod neque, sed ornare massa mauris sed velit. Nulla pretium mi et risus. Fusce mi pede, tempor id, cursus ac, ullamcorper nec, enim. Sed tortor. Curabitur molestie. Duis velit augue, co<i></i>ndimentum at, ultrices a, luctus ut, orci. Do<i></i>nec pellentesque egestas eros. Integer cursus, augue in cursus faucibus, eros pede bibendum sem, in tempus tellus justo quis ligula. Etiam eget tortor. Vestibulum rutrum, est ut placerat elementum, lectus nisl aliquam velit, tempor aliquam eros nunc no<i></i>nummy metus. In eros metus, gravida a, gravida sed, lobortis id, turpis. Ut ultrices, ipsum at venenatis fringilla, sem nulla lacinia tellus, eget aliquet turpis mauris non enim. Nam turpis. Suspendisse lacinia. Curabitur ac tortor ut ipsum egestas elementum. Nunc imperdiet gravida mauris.泄漏電的途徑主要經(jīng)過玻璃(I1)、EVA與玻璃的界面(I2)、EVA(I3)、背板材料(I4)和邊框密封材料等到達(dá)邊框。二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):1.PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 (Draft) “System voltage durability test for crystalline silicon modules – design qualification and type approval”,基本要求是準(zhǔn)備 3 塊組件。其中一塊作為控制組件,組件置于一定溫度和濕度的環(huán)境中,將組件的內(nèi)部導(dǎo)電體與高壓電源的一個(gè)極連在一起,組件外導(dǎo)電體與高壓電源的另一極連在一起。 一塊組件在正偏壓下進(jìn)行老化,一塊組件在負(fù)偏壓下老化。2.測(cè)試條件如下:環(huán)境溫度:60℃±2℃;環(huán)境濕度:85%±5% RH;測(cè)試時(shí)間:96 小時(shí);測(cè)試電壓:在組件需滿足的正系統(tǒng)電壓下或負(fù)系統(tǒng)電壓下。3.組件老化前需經(jīng)過光老化、外觀檢測(cè)、***大功率測(cè)試、絕緣測(cè)試、接地連續(xù)性測(cè)試(如果組件有外漏導(dǎo)電體),老化后需進(jìn)行濕漏電測(cè)試、***大功率點(diǎn)測(cè)試、外觀檢測(cè)、絕緣測(cè)試。具體測(cè)試序列見下圖所示:Lorem ipsum dolor sit amet, co<i></i>nsectetuer adipiscing elit. Maecenas feugiat co<i></i>nsequat diam. Maecenas metus. Vivamus diam purus, cursus a, commodo non, facilisis vitae, nulla. Aenean dictum lacinia tortor. 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Nunc imperdiet gravida mauris. 三、功能特點(diǎn):1.組件邊框端永久接地,既模擬實(shí)際情況,又防止了測(cè)試過程中由于邊框高壓引起的潛在危險(xiǎn);2.對(duì)于每塊組件,采用4線制測(cè)試方法,2根高壓線,2根接地線,高壓線通過接線盒與組件內(nèi)部連在一起,接地線與邊框連在一起或連接在其他有效位置;3.多路電流同時(shí)顯示,報(bào)警參數(shù)單獨(dú)設(shè)置,單路通斷控制;4.正電源和負(fù)電源的無弧化轉(zhuǎn)換,模擬系統(tǒng)的正極接地或負(fù)極接地;5.倒計(jì)時(shí)功能,可設(shè)置測(cè)試時(shí)間,自動(dòng)停止;6.上位機(jī)記錄測(cè)試中數(shù)據(jù);四、參數(shù)配置:Ø  設(shè)備型號(hào):YQ-GF-PIDØ  外觀尺寸:640mm*640mm*1500mmØ  電源電壓:-1500V~0V/ 0~+1500VØ  電源時(shí)漂:≤0.3%/hØ  電源溫漂:≤0.5‰/℃Ø  電源紋波:≤0.5%Ø  電流范圍:1~1000 uA /-1000 uA~-1Ø  試驗(yàn)時(shí)間:0~168hØ  絕緣電阻:>1000MΩØ  測(cè)試組件數(shù):可定制五、軟件介紹:1.實(shí)時(shí)顯示泄漏電流(微安級(jí))、泄漏電量、絕緣電阻、組件溫度、濕度等參數(shù);Lorem ipsum dolor sit amet, co<i></i>nsectetuer adipiscing elit. Maecenas feugiat co<i></i>nsequat diam. Maecenas metus. Vivamus diam purus, cursus a, commodo non, facilisis vitae, nulla. Aenean dictum lacinia tortor. Nunc iaculis, nibh non iaculis aliquam, orci felis euismod neque, sed ornare massa mauris sed velit. 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Nunc imperdiet gravida mauris. 3.多路測(cè)試條件單獨(dú)設(shè)置,包括測(cè)試時(shí)間、系統(tǒng)報(bào)警參數(shù)等;Lorem ipsum dolor sit amet, co<i></i>nsectetuer adipiscing elit. Maecenas feugiat co<i></i>nsequat diam. Maecenas metus. Vivamus diam purus, cursus a, commodo non, facilisis vitae, nulla. Aenean dictum lacinia tortor. Nunc iaculis, nibh non iaculis aliquam, orci felis euismod neque, sed ornare massa mauris sed velit. Nulla pretium mi et risus. Fusce mi pede, tempor id, cursus ac, ullamcorper nec, enim. Sed tortor. Curabitur molestie. Duis velit augue, co<i></i>ndimentum at, ultrices a, luctus ut, orci. Do<i></i>nec pellentesque egestas eros. Integer cursus, augue in cursus faucibus, eros pede bibendum sem, in tempus tellus justo quis ligula. Etiam eget tortor. Vestibulum rutrum, est ut placerat elementum, lectus nisl aliquam velit, tempor aliquam eros nunc no<i></i>nummy metus. In eros metus, gravida a, gravida sed, lobortis id, turpis. 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