SMT-A / SMT-B / SMT-F ：太陽(yáng)能電性能測(cè)試儀

產(chǎn)品特點(diǎn)：　

該設(shè)備專(zhuān)門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。　

通過(guò)模擬太陽(yáng)光譜光源，對(duì)電池組件的相關(guān)電參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。　

獨(dú)有的校正裝置，輸入補(bǔ)償參數(shù)，進(jìn)行自動(dòng)/手動(dòng)溫度補(bǔ)償和光強(qiáng)度補(bǔ)償，具備非接觸式自動(dòng)測(cè)溫與溫度修正功能。　

基于Windows的操作界面，測(cè)試軟件人性化設(shè)計(jì)，記錄并顯示測(cè)試曲線（I-V曲線、P曲線）和測(cè)試參數(shù)（Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp），測(cè)試結(jié)果語(yǔ)音提示，序列號(hào)自動(dòng)生成，保存到指定文件夾。　

太陽(yáng)能電性能測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：　

型號(hào)規(guī)格：SMT-A   SMT-B   SMT-F　

輻照不均勻度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

輻照不穩(wěn)定度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

測(cè)試結(jié)果一致性：≤±0.5%（SMT-A）   ≤±1%（SMT-B）   ≤±0.5%（SMT-F）　

電性能測(cè)試誤差：≤±1%（SMT-A）   ≤±2%（SMT-B）   ≤±1%（SMT-F）　

單次閃光時(shí)間：10ms　

光譜范圍：符合IEC60904-9要求（A級(jí)）　

輻照強(qiáng)度：100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)　

有效測(cè)試面積：1200mm×2000mm　

有效測(cè)試范圍：10W~300W　

測(cè)量電壓：1V~10V(分辨率1mV)　

測(cè)量電流：100mA~20A(分辨率1mA)　

測(cè)試參數(shù)：Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp　

數(shù)據(jù)采集：含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)　

太陽(yáng)能電性能測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域：專(zhuān)門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。　

以上是供應(yīng)“太陽(yáng)能電性能測(cè)試儀”的詳細(xì)信息，如果您對(duì)供應(yīng)太陽(yáng)能電性能測(cè)試儀的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有什么疑問(wèn)，請(qǐng)聯(lián)系我們獲取供應(yīng)太陽(yáng)能電性能測(cè)試儀的***新信息。