多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對(duì)晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測(cè)量，能夠測(cè)量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有極高的精確度和準(zhǔn)確度。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

■ 可以測(cè)量單晶電池片、多晶電池片

■ 可以測(cè)量拋光片，精確度和準(zhǔn)確度極高

■ 可以測(cè)量粗糙表面的“絨片”

■ 適用于對(duì)太陽能電池粗糙表面減反膜造成的低反射光強(qiáng)進(jìn)行測(cè)量

■ 可對(duì)太陽能電池粗糙表面減反膜造成的退偏因數(shù)（偏振因數(shù)）進(jìn)行測(cè)量和評(píng)估，提高測(cè)量精度

■ 配置有高穩(wěn)定度補(bǔ)償器，提供***小的漂移值和***小的測(cè)量誤差

■ 配置有高精度的自動(dòng)光學(xué)對(duì)準(zhǔn)顯微鏡

■ 可進(jìn)行20°－90°范圍內(nèi)的多角度測(cè)量

測(cè)量特點(diǎn)：

■ 非破環(huán)性檢測(cè)

■ 樣品準(zhǔn)直簡單方便

■ 測(cè)量速度快

■ 可變?nèi)肷浣欠秶鷮?/p>

■ ***測(cè)量

■ 軟件分析功能強(qiáng)

技術(shù)指標(biāo)：

■ 光源：He-Ne激光器

■ 光斑直徑：1-2mm

■ 入射角范圍：20°到90°,5°/步

■ 精度：0.002°~ 0.02°

■ 膜厚精度：0.01mm，對(duì)100nmSiO2on Si

■ 折射率精度：0.0005，對(duì)100nmSiO2on Si

■ 激光光斑：直徑1mm

■ 激光波長632.8 nm

典型客戶： 美國，歐洲，亞洲及國內(nèi)太陽能及半導(dǎo)體客戶。