詳細說明：

太陽能電池IV特性分布測量系統是一種新型的太陽能電池測量設備，它同時具備IV特性mapping測量，缺陷分析功能，QE量子效率Mapping測量等功能。

可圖像化地顯示電池或組件效率分布，可用于缺陷分析。單晶硅，多晶硅，CIGS，染料敏化，有機太陽能電池或組件都能進行測量。

采用測試方法是：條形模擬太陽光按設定的多個方向掃描照射光伏電池表面，掃描過程中同時采集IV特性數據，獲取的數據經過CT（計算機斷層掃描）計算可得到直觀的全范圍內每一點IV特性圖像。

技術特點：

可應用于各種太陽能電池和組件；

***大可測量電池或組件尺寸：1mm×1mm 到 156×156mm，500mm×500mm，1500mm×1500mm or更大；

測量時間，小于1分鐘（6英寸片）

單點或全區域的IV特性數據分布

AM1.5濾片，可見光，紅外光濾片

輻照光強one sun，且0.1~7sun可調；

溫度控制單元

缺陷檢測功能

全自動測量軟件

測試功能：

全面積范圍內電流密度、短路電流、填充因子、轉換效率、內阻等IV特性分布Mapping測量；

全面積范圍內光譜響應SR、量子效率QE Mapping測量；

指定點、微區光譜響應SR、量子效率QE Mapping測量；

指定點、微區內電流密度、短路電流、填充因子、轉換效率等IV特性分布Mapping測量；

單一波長下全面積范圍、指定點、微區IV特性分布mapping測量；

定電壓下電流密度分布Mapping測量；

效率不均勻度分布分析、分流分析、失效分析等；