美國Bruker公司成立于50年前，是在納斯達克上市的世界***的高科技分析儀器跨國企業，以生產臺階儀、光學輪廓儀、質譜儀、核磁共振譜儀、傅立葉紅外/拉曼光譜儀、原子力顯微鏡、摩擦磨損測試設備等高水平、高精度分析儀器享譽全球科技界。

     客戶涵蓋大學、研究所以及太陽能、 LED、 觸摸屏、 半導體、 電子等工業領域，處于市場的***地位，業內***品牌。

     創新點:用于生產和研發的非接觸式三維光學輪廓儀ContourGT系列結合先進的64位多核操作和分析處理軟件，專利技術白光干涉儀（WLI）硬件，推出歷年來來***先進的3D光學表面輪廓儀系統。0.5倍至200倍的放大倍率，在極寬的測量范圍內，對樣品表面形狀和紋理進行表征。高分辨率攝像頭可選配件，提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復性。多核處理器和64位軟件使數據分析速度提高十倍。高亮度的雙LED照明專利技術提高測量質量.***佳化的硬件設計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。專利的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關性，測量準確度和重復性。

非接觸測量模式－－－對樣品表面無損傷

      測試時間短， 垂直方向上可達亞納米級分辨率

      快速、準確測量多個樣品 ，實現高速材料表面表征

      PSI 和 VSI 標準測試模式.

      廣泛的應用領域，操作簡單方便

      高分辯、高速測量、高重復性、高可靠性的完美結合

      IMOA 閉環控制 掃描.

      完美的線性和重復性

功能強大、行業***的專業分析軟件： 

※臺階高度

※表面粗糙度

※多區域測量

※彎曲和應力測量

※角度測量

※厚膜分析軟件包－適用透明、半透明厚膜厚度及膜表面粗糙度分析

※光學軟件包－應用于光學級表面表征

※數據存儲制造業軟件包－適用于硬盤部件的測量檢測

※圖像縫合功能－適用于大面積高分辨圖像測量

※提供精確的、重復性高的三維測量方案